得利特解析體積電阻率測定儀介質(zhì)損耗因數的定義

體積電阻率測定儀介質(zhì)損耗因數的定義：
介質(zhì)損耗因數tgδ只與材料特性有關(guān),與材料的尺寸、體積無(wú)關(guān),便于不同設備之間進(jìn)行比較。
電阻率測定儀應用介質(zhì)損耗因素及電阻率測定儀測量介質(zhì)損耗因數tgδ判斷電氣設備的絕緣狀況是一種傳統的、十分有效的方法。它能反映出絕緣的一系列缺陷,如絕緣受潮,油或浸漬物臟污或劣化變質(zhì),絕緣中有氣隙發(fā)生放電等。這時(shí)流過(guò)絕緣的電流中有功分量IRX增大了,tgδ也加大。
按照電力設備預防性試驗規程的規定,對多種電力設備(如電力變壓器、發(fā)電機組、高壓開(kāi)關(guān)、電壓電流互感器、套管、耦合電容等)都需要做介質(zhì)損耗因素(tgδ)的測量。
所以tgδ試驗是一項*而且非常有效的試驗。能較靈敏地反映出設備絕緣情況,發(fā)現設備缺陷。
電阻率測定儀主要用于測量炭制品和石墨制品以及其它導電棒狀材料在實(shí)驗室常溫下的電阻率，包括粉體材料。